更新時間:2023-08-18
光致發(fā)光光譜儀特點(diǎn):顯微光致發(fā)光/低溫-光致發(fā)光及電致發(fā)光測量可適用高精密光致發(fā)光測繪到0.01nm為止的高空間分辨率自動化:波長監(jiān)測,濾波及激光器范圍
光致發(fā)光光譜儀
1)Maple-II, Micro PL System
特點(diǎn):
顯微光致發(fā)光/低溫-光致發(fā)光及電致發(fā)光測量
可適用高精密光致發(fā)光測繪
到0.01nm為止的高空間分辨率
自動化:波長監(jiān)測,濾波及激光器范圍
光致發(fā)光光譜儀
2)SC-100 ,Macro光致發(fā)光/PLE測量
特點(diǎn):
緊湊的模塊化設(shè)計(jì)及經(jīng)濟(jì)的選擇
多激發(fā)源(到9)
單獨(dú)及光纖耦合半導(dǎo)體激光器輸入輸出
用戶自定義系統(tǒng)
3)SC-100FS,Macro PL/壽命測量
特點(diǎn):
時間分辨率單光子計(jì)數(shù)模塊
時間分辨能力:25ps/1ns(長距離模式)
簡便及精密的電壓監(jiān)測
光致發(fā)光及熒光的脈沖以及CW源
作為本社的拉曼光致發(fā)光系統(tǒng)其結(jié)構(gòu)簡便
參數(shù):
| Maple-II | SC-100 | SC-100FS | |
檢測范圍 | 200~5000nm | 200~5000nm | 200~5000nm(200-1600nm for Time) | |
光譜分辨率 | 0.015nm/pixel
| |||
雜散光阻斷 | 5*10-6 | |||
輸入源 | 246-1064(laser combine up to 3 line) | 246-1064(laser combine up to 9 wavelength) | ||
探測器 | CCD/PMT/PD | CCD/PMT/PD/MCP | ||
自動化 | Laser line,power ,wavelength ,resolution polarization control by sw | |||
共焦模塊 | Real confocal pinhole/slit | X | X | |
物鏡 | X10~X100(266-1800nm) | |||
束斑尺寸 | <1μm | <50~100μm | ||
低溫選項(xiàng) | ~4k(77k) |