可見光-短波焦平面測試設(shè)備VIT 測試系統(tǒng)是一個可擴展的用于測試硅成像探測器,黑硅成像探測器以及InGaAs 成像探測器的測試系統(tǒng),本套測試系統(tǒng)由以下五部分組成: a) 標(biāo)定的可調(diào)節(jié)亮度及光譜的光源; b) 高精度圖像投影系統(tǒng); c) 成像探測器電子控制器; d) 圖像采集卡; e) 圖像分析軟件;
查看詳細(xì)介紹夜視設(shè)備測試設(shè)備NV系列高技術(shù)測試系統(tǒng)支持夜視設(shè)備的專業(yè)化測試評估。如下圖所示,一系列9種測試系統(tǒng)(NVT,NV14,NVS,N20,N2D,NCLIP,NIG,NICOM以及NIMAX) 支持市場上所有夜視設(shè)備的測試,NV系列測試設(shè)備可以分為兩組:A)非計算機控制測試系統(tǒng);B)計算機控制測試系統(tǒng)。
查看詳細(xì)介紹激光測試設(shè)備L64 測試系統(tǒng)是一套激光光斑投影機構(gòu),用于模擬被測試的激光接收器接收一個工作在1064nm 的發(fā)射光斑/ 反射激光脈沖輻射。峰值功率,激光脈沖的時間參數(shù),被模擬激光光斑的角尺寸可以在寬范圍內(nèi)的調(diào)節(jié)。
查看詳細(xì)介紹融合多傳感器電子相機測試系統(tǒng)FCLIP是一套計算機控制的測試系統(tǒng),適用于測試融合圖像夾,F(xiàn)CLIP 測試系統(tǒng)支持測試四個對準(zhǔn)參數(shù)以校正圖像位移偏差。
查看詳細(xì)介紹軸對準(zhǔn)測試設(shè)備高效的測試系統(tǒng)用于多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)(紅外熱像儀,電視相機,短波紅外相機,激光測距機,激光指示器)的軸對準(zhǔn)以及基本參數(shù)測試。集成了黑體與可見光/近紅外的光源用于生成被測紅外熱像儀,可見光設(shè)備,電視相機(線陣電視相機)以及短波紅外相機所探測的輻射。
查看詳細(xì)介紹像增強器測試設(shè)備$n測量現(xiàn)代像增強器不是一個簡單的任務(wù)。MIL 系列標(biāo)準(zhǔn)建議要測量35 個參數(shù)來表征一個像管的性能。這$n些參數(shù)可以概括地分成如下四類:$nA. 光度學(xué)參數(shù)(Photometric)$nB. 成像質(zhì)量參數(shù)$nC. 可靠性參數(shù)$nD. 時間響應(yīng)參數(shù)(Temporal)
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